掃描型X射線熒光光譜儀XRF-1800型

產(chǎn)品型號：XRF-1800型
更新時間：2024-03-18
產(chǎn)品介紹：XRF-1800從儀器的硬件與軟件在許多細節(jié)都進行了改進，使得儀器的可靠性與可操作性更進一步提高，增加了世界*的250μm微區(qū)分布成像分析功能，從而達到更高水平的*程度。作為高靈敏度和微區(qū)分析的*，島津公司非常自信地向用戶奉獻出的XRF-1800型X射線熒光光譜儀。
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產(chǎn)品介紹

產(chǎn)品信息

世界*250μm微區(qū)分布成像分析功能！

XRF-1500/1700系列X射線熒光光譜儀是在世界上首先開發(fā)出微區(qū)分析/分布分析功能，并*采用了4KW薄窗X射線管，擴大了X射線熒光分析的應(yīng)用領(lǐng)域，作為具有革命性的儀器而得到了很高評價，業(yè)已銷售200余臺。
XRF-1800從儀器的硬件與軟件在許多細節(jié)都進行了改進，使得儀器的可靠性與可操作性更進一步提高，增加了世界*的250μm微區(qū)分布成像分析功能，從而達到更高水平的*程度。作為高靈敏度和微區(qū)分析的*，島津公司非常自信地向用戶奉獻出的XRF-1800型X射線熒光光譜儀。

在波長色散型裝置中，世界*250μm微區(qū)分布成像分析功能（已取得）

可分析不均勻樣品的含量分布、強度分布。

XRF 1.jpg XRF 2.jpg
稀土元素礦石的XRF-1800成像分析實例

利用高次譜線進行準確的定性/定量分析（申請中）

高次譜線的判定更加準確，提高了定性定量分析的準確度/可靠性。

XRF 3.gif
利用XRF-1800的高次譜線分析剎車片實例

測定高分子薄膜的膜厚與無機成分分析的背景基本參數(shù)（BG-FP）法

利用康普頓散射/瑞利散射的強度比計算出熒光X射線分析不能得到的氫（H）元素的信息。高分子薄膜分析中，利用康普頓散射線的理論強度作為高分子薄膜的信息。

XRF 4.gif
使用XRF-1800進行的膜厚測定、薄膜測定實例

微區(qū)分析結(jié)構(gòu)
獨自開發(fā)的特殊形狀的滑動式視野限制光欄，利用r方向滑動與樣品旋轉(zhuǎn)控制的q轉(zhuǎn)動，可以在30mm直徑內(nèi)的任意位置進行分析。
利用CCD相機可以直接觀察樣品（選配件）
在測定室導(dǎo)入樣品的位置上，將樣品容器按照與測定位置相同的方式放置，通過CCD攝取樣品的圖像，可使測定位置與圖像相吻合。（申請中）
配備高可靠性、長壽命的4kW薄窗Ｘ射線管
配備平均壽命在5年以上的高可靠性Ｘ射線管。與傳統(tǒng)的3kWＸ射線管相比，輕元素的分析靈敏度提高2倍以上。
集成島津技能精華的模塊功能,匹配分析功能
對應(yīng)于液體、粉末、固體、金屬、氧化物等不同形態(tài)的樣品具有相應(yīng)的分析條件，在這基礎(chǔ)上可編制*的分析條件。可根據(jù)不同材質(zhì)判定、品種分類、品種判定、*性檢索這4種匹配功能進行判定、檢索。

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